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ビームライン＊
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設備・装置 |
装置の概要・条件 |
担当者・連絡先 |
備考 |
| 1 |
(BL14B1) |
エネルギー分散型XAFS装置 |
触媒反応等の「その場」観測機能を備えたX線吸収分光測定による元素選択的構造解析。 |
松村 大樹
TEL: 070-1435-6393
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| 2 |
BL22XU |
カッパ型多軸回折計 |
アンジュレータビームラインの高いフラックスを活かして、表面X線回折による固体-液体界面の構造や高エネルギーX線回折による局所構造解析の研究に用いる。 |
米田 安宏
TEL: 080-9415-4205
田村 和久
TEL: 080-4931-4856
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| 3 |
応力・イメージング測定装置 |
様々な製作・加工過程や使用環境下で材料中に生じる応力・ひずみ・内部欠陥等を測定・解析。 |
菖蒲 敬久
TEL: 080-4905-2775
冨永 亜希
TEL: 070-1524-2016
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| 4 |
高輝度放射光XAFSシステム |
高輝度X線吸収分光による、アクチノイドやランタノイドを選択的に識別する有機化合物の構造や反応ダイナミクス測定・解析。QuickXAFS測定。 |
塩飽 秀啓
TEL: 070-1267-8031
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| 5 |
硬X線光電子分光装置 |
集光した高輝度硬X線によるバルク敏感な固体の顕微化学状態分析、中和銃により絶縁体の測定も可能。 |
小畠 雅明
TEL: 080-3245-4406
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| 6 |
BL23SU |
表面化学実験ステーション |
高輝度軟X線を使った光電子分光による固体材料表面・界面の高感度精密分析や表面と気体の化学反応の時分割その場観察。 |
吉越 章隆
TEL: 070-1428-8178
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| 7 |
軟X線光電子分光装置 |
高分解能光電子分光による希土類、遷移金属、ウラン・アクチノイドなどの強相関電子系物質の電子構造、化学結合などの測定。 |
川崎 郁斗
TEL: 070-1267-0284
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| 8 |
軟X線磁気円二色性測定装置 |
磁性の発現機構の解明や各種機能性材料の解析・評価。 |
芝田 悟朗
TEL: 080-4651-6597
| 注意
(重要) |
| 9 |
走査型X線透過顕微鏡 |
数十nmオーダーでの元素マッピングおよび吸収スペクトルの測定。 |
芝田 悟朗
TEL: 080-4651-6597
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