原子力機構では、新たに一般研究機器の共用(供用)を開始しました。
X線構造解析装置やレーザーラマン分光器、X線回析装置など様々な一般研究機器の利用サービスを提供します。
利用対象の一般研究機器については以下のバナーをクリックしてください。
測定
測定
- 名称:磁化率測定装置
- 型番:MPMS-7 2-400 K, 7 T
- 用途:1.9 Kから800 Kまでの磁化測定
- 名称:単結晶X線構造解析装置
- 型番:Rigaku
- 用途:低分子化合物の結晶構造決定
- 名称:レーザーラマン分光器
- 型番:-
- 用途:固体、液体試料のラマン測定
- 名称:粒度分布測定装置
- 型番:島津製作所 SALD-2200
- 用途:各種粉末の粒径及び粒度分布測定(ウランまで)
- 名称:水蒸気雰囲気対応示差熱天秤
- 型番:-
- 用途:高温水蒸気中における酸化等の固体化学反応や蒸発挙動の測定
- 名称:膜厚測定器
- 型番:H.フィッシャー
- 用途:酸化皮膜厚さ
- 名称:熱画像用赤外線カメラ
- 型番:チノー CPA-SC5200SP
- 用途:表面温度分布測定
- 名称:粒度分布測定装置
- 型番:-
- 用途:溶液中に存在する粒子の粒度分布及び濃度測定
- 名称:示差熱天秤-光イオン化質量分析同時測定システム
- 型番:-
- 用途:酸化等の固体化学反応や蒸発ガス種の測定
- 名称:微量分光光度計
- 型番:-
- 用途:溶液試料の分光分析
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分析
分析
- 名称:蛍光X線分析装置
- 型番:Shimadzu EDX-800
- 用途:非破壊元素分析に使用
- 名称:X線回折装置(XRD)
- 型番:Rigaku Ultima IV
- 用途:結晶構造の分析
- 名称:SEM/EDS
- 型番:キーエンス VE-8800
- 用途:金属、セラミクス材料の表面観察、元素分析(ウランまで)
- 名称:EQCMアナライザー
- 型番:ALS-400C
- 電極表面等への吸着反応の観察
- 名称:顕微レーザーラマン分光分析装置
- 型番:日本分光 NRS-5100HMP
- 固体試料の分光分析
- 名称:高周波プラズマ 発光分光分析装置
- 型番:-
- 金属元素の定性およびウランの定量分析に使用
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試験
試験
- 名称:微少試験片用疲労変形試験装置
- 型番:-
- 用途:微小試験片技術開発、室温疲労試験
- 名称:微小破壊靱性・引張試験機
- 型番:-
- 用途:小型試験片の破壊強度・変形試験
- 名称:照射腐食割れ試験装置
- 型番:-
- 用途:高温水中における構造材料の環境助長割れ感受性評価試験・ECPセンサーの評価試験
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観察
観察
- 名称:走査型電子顕微鏡
- 型番:-
- 用途:走査型電子顕微鏡
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その他
その他
- 名称:集束イオンビーム加工装置
- 型番:-
- 用途:TEM観察試料の作製 照射した試料の電子顕微鏡試料作製
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一般研究機器の利用をご希望の方は、一般研究機器利用約款に同意のうえ、以下の研究機器供用システムよりお申し込みください。
利用にあたっては、事前に以下のJRR-3利用申請システムにアクセスし、ID、パスワードの登録が必要です。